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當前位置:首頁產品中心實驗檢測儀器測量金相顯微鏡PZ-JTM-8060A測量金相顯微鏡

測量金相顯微鏡

產品簡介

測量金相顯微鏡主要用于LCB、PDP、PCB等相關的光電產業,為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding 效果測量導電粒子大小、數量等功能。

產品型號:PZ-JTM-8060A
廠商性質:生產廠家
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產品名稱:測量金相顯微鏡
產品簡介:測量金相顯微鏡主要用于LCB、PDP、PCB等相關的光電產業,為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding 效果測量導電粒子大小、數量等功能。

產品特點:

金相光學觀察系統,JTM-8060A可以觀察32寸液晶面板可實現明暗視野的觀察以及導電粒子微分干涉觀察。系統使用人體工學設計理念設計,符合友好化測量、采用主動式減震系統,花崗石本體結構,能剛好的克服環境震動問題。人性化計算機測量模式,有效提高觀察定位效率。專為使用者設計*機型,操作更便利、測量更迅速。

規格參數:  

1、儀器型號:JTM-8060A

    2、測量范圍:800mm(X)*600mm(Y)*100mm(Z)

    3、解析讀數:0.1 um

    4、示值誤差:3um+4L/1000     L:單位mm

    5、外形尺寸:1725mm(X)*1410mm(Y)*1800mm(Z)(mm)

    6、儀器重量:5500KG

    7、物鏡倍率:5X10X20X50X100X

    8、落射照明光源:可調高亮度鹵素12V 50W表面光源

    9、底光照明光源:高亮度LED底部光源、背光模組(選配)

 

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